礦石檢測儀器 IP65防護(hù)等級 礦物分析儀

貴金屬礦檢測的核心痛點(diǎn)

1. 含量極低：

• 巖金礦：Au常為1-10 g/t（≈1-10 ppm）

• 砂金礦：可能低至0.1 g/t

• 鉑族元素（Pt、Pd等）：多低于1 ppm

2. 干擾因素多：

• 共生礦物（如黃鐵礦包裹金）

• 基體效應(yīng)（銅銀共生礦中的信號重疊）

手持式XRF光譜儀

野外快速篩查金礦（Au）、銀礦（Ag）等，檢測限通常為5~50 ppm。

無法直接檢測鉑族元素（如Pt、Pd需高性能型號）。

便攜、無損、速度快（10秒/點(diǎn)）。

礦石檢測儀器 IP65防護(hù)等級 礦物分析儀

操作避坑指南

1. 樣品制備：

• XRF檢測面需打磨至400目以上

• 避免使用含鉛拋光劑（干擾Au信號）

2. 校準(zhǔn)驗證：

• 每日用標(biāo)樣（如GSA-8A金礦標(biāo)樣）校準(zhǔn)

• 當(dāng)檢測值接近設(shè)備檢出下限，必須實驗室復(fù)檢

3. 數(shù)據(jù)解讀：

• 手持XRF的"Au"峰值需排除Hg干擾（常見于銻金礦）

典型應(yīng)用場景

1. 礦產(chǎn)勘探

• 快速圈定礦化帶，識別礦石品位（如銅、鐵、鋅等）。

2. 開采與選礦

• 實時監(jiān)控礦石品位，優(yōu)化分選和冶煉流程。

3. 環(huán)保與回收

• 檢測尾礦有害元素（如鉛、砷），或電子廢棄物中的金屬含量。

4. 學(xué)術(shù)研究

• 地質(zhì)調(diào)查、礦床成因研究等。

• 注意事項

• 樣品要求：表面平整（可配備研磨工具），避免潮濕或鍍層干擾。

• 安全防護(hù)：XRF儀器需避免直射人體，符合輻射安全標(biāo)準(zhǔn)（如FDA 21 CFR）。

• 校準(zhǔn)維護(hù)：定期使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

• 手持礦石分析儀顯著提升了野外工作效率，降低了實驗室送樣成本，是現(xiàn)代地質(zhì)和礦業(yè)領(lǐng)域的優(yōu)選工具。選擇時需根據(jù)目標(biāo)元素、檢測精度及環(huán)境條件綜合評估。